熱門關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTERENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì),我們是您的信賴之選!非接觸式、非破壞性,實(shí)時(shí)在線測(cè)量或離線測(cè)量
可單次測(cè)量多層膜,可測(cè)20層
探針靈活配置,實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量
測(cè)試速度快,適用范圍廣
關(guān)于我們
ABOUT US北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年,專業(yè)代理歐美(德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等)高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括:光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品:應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等;激光檢測(cè)產(chǎn)品:激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等;集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門...
技術(shù)支持
TCEHNICAL SUPPORT光束質(zhì)量分析儀基本的工作原理是通過(guò)對(duì)光束橫截面上的光強(qiáng)分布進(jìn)行測(cè)量和分析。當(dāng)光束照射到分析儀的探測(cè)器表面時(shí),探測(cè)器上的每個(gè)像素點(diǎn)會(huì)接收到不同強(qiáng)度的光信號(hào),并將這...
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Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于準(zhǔn)確控制測(cè)量條件、規(guī)范操作流程以及定期維護(hù)校準(zhǔn)。通過(guò)上述步驟和注意事項(xiàng),可保證測(cè)量的準(zhǔn)確性和設(shè)備壽命。1.準(zhǔn)備工作:確保設(shè)備處于良好的工作環(huán)境,溫度為室溫(約25℃)。檢查儀器各部件是否完好,連接是否正常。初次使用時(shí),需先測(cè)定0輸入對(duì)應(yīng)的功率值作為校準(zhǔn)基準(zhǔn)。2.對(duì)準(zhǔn)光路:將激光源發(fā)出的光束準(zhǔn)確對(duì)準(zhǔn)探頭的光輸入窗口。此時(shí)應(yīng)調(diào)整光斑大小,使其占有效測(cè)量區(qū)域的40~80,以保證測(cè)量精度。例如,若探頭的有效感應(yīng)面積較大,則需通過(guò)光學(xué)元件或機(jī)械裝置...
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穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)的定標(biāo)是確保系統(tǒng)準(zhǔn)確獲取光學(xué)信息的關(guān)鍵步驟,其核心在于通過(guò)已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品,對(duì)系統(tǒng)參數(shù)進(jìn)行精確調(diào)整與校準(zhǔn),以下為詳細(xì)介紹:一、定標(biāo)原理穆勒矩陣是描述材料對(duì)偏振光變換作用的四維矩陣,每行對(duì)應(yīng)入射偏振態(tài),每列對(duì)應(yīng)出射偏振態(tài),16個(gè)元素共同構(gòu)成材料的光學(xué)指紋。定標(biāo)過(guò)程即通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)樣品,確定系統(tǒng)各偏振參數(shù)(如補(bǔ)償器相位延遲量、起偏器和檢偏器方位角等),使系統(tǒng)能夠準(zhǔn)確獲取樣品的穆勒矩陣。二、定標(biāo)步驟準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣品:選擇具有已知光學(xué)特性的標(biāo)準(zhǔn)樣品,如具有明確偏振特性的晶...
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Gentec-EO激光功率計(jì)的核心在于熱效應(yīng)探測(cè)器的使用。激光探頭表面涂有特殊的熱電材料作為吸收體,當(dāng)激光照射時(shí),大部分光能被該材料吸收并轉(zhuǎn)化為熱量,僅有少量反射。這種高吸收率的設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的準(zhǔn)確性基礎(chǔ)。吸收體兩端因受熱不均形成溫度梯度,進(jìn)而在兩端之間產(chǎn)生電壓差。這一過(guò)程利用了塞貝克效應(yīng)(Seebeckeffect),即不同溫度下的導(dǎo)體或半導(dǎo)體會(huì)產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)的現(xiàn)象。產(chǎn)生的微弱電壓信號(hào)隨后由配套的電路進(jìn)行放大和處理。內(nèi)置的高精度測(cè)量電路負(fù)責(zé)接收這些模擬信號(hào),并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)字形式...
新聞中心
NEWS CENTER摘要激光技術(shù)在科研、工業(yè)制造、醫(yī)療等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保激光設(shè)備的性能和安全性,準(zhǔn)確地測(cè)量激光輸出功率顯得尤為重要。本文將詳細(xì)介紹激光功率計(jì)的工作原...
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在我們?nèi)粘I钪校坨R、相機(jī)鏡頭、顯微鏡、望遠(yuǎn)鏡等都離不開(kāi)光學(xué)玻璃。這些玻璃不僅要透明,還要具備高的光學(xué)均勻性。然而,即使外觀無(wú)瑕的玻璃,內(nèi)部也可能隱藏著“壓力”——這就是所謂的“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)力雖看不見(jiàn),卻會(huì)嚴(yán)重影響光學(xué)性能,因此必須進(jìn)行精確測(cè)量和控制。本文將帶您了解光學(xué)玻璃應(yīng)力測(cè)量的基本知識(shí)。什么是光學(xué)玻璃中的應(yīng)力?光學(xué)玻璃在制造過(guò)程中(如熔煉、成型、退火等),由于溫度變化不均勻或外部約束,內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生不均勻的分子排列,導(dǎo)致部分區(qū)域被拉伸或壓縮,形成“殘余應(yīng)力”。這種應(yīng)...
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當(dāng)光進(jìn)入Lumetrics測(cè)厚儀的干涉儀后,輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動(dòng)方向相同,但具有穩(wěn)定的相位差,并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合疊加時(shí),會(huì)出現(xiàn)光的干涉現(xiàn)象。光強(qiáng)在疊加區(qū)域內(nèi)不是均勻分布,而是在數(shù)值之間逐點(diǎn)變化,可能超過(guò)兩光束之和,小值可能是零。通過(guò)分析這種干涉條紋的變化,可以準(zhǔn)確地測(cè)量出被測(cè)物體的厚度。Lumetrics測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn):-非接觸式測(cè)量:它不需要與被測(cè)物體直接接觸,避免了傳統(tǒng)接觸式測(cè)量可能對(duì)物體表面造成的劃傷、磨損等損害,尤其適用于測(cè)...
5-8
激光測(cè)厚儀是一種基于激光技術(shù)的高精度非接觸式測(cè)量設(shè)備,通過(guò)發(fā)射激光束并捕捉反射信號(hào),實(shí)現(xiàn)對(duì)材料厚度的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。其核心優(yōu)勢(shì)在于突破傳統(tǒng)接觸式測(cè)量的局限,以微米級(jí)精度滿足現(xiàn)代工業(yè)對(duì)品質(zhì)控制的嚴(yán)苛需求,成為航空航天、汽車制造、新能源等領(lǐng)域的核心檢測(cè)工具。一、技術(shù)原理:雙傳感器對(duì)射與三角測(cè)距的精密融合激光測(cè)厚儀的核心技術(shù)可分為兩大體系:雙激光位移傳感器對(duì)射法與三角測(cè)距原理。雙傳感器對(duì)射法:設(shè)備上下各配置一臺(tái)激光位移傳感器,分別測(cè)量被測(cè)物體上表面與下表面的空間坐標(biāo)。通過(guò)計(jì)算兩傳感...
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